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將「相位差量測」推向更高層次
全自動 LSM-9000二維相位分析儀
高解析 PA/WPA二維相位分析儀
內部應力(相位差)量化分析
內部應力(相位差)分佈分析
觀測物件:
光學鏡頭、鏡片 / 光學薄膜
SiC、GaN晶圓 / UV硬化膠
LC Cell / 光碟基板
PLC程式控制器公司資訊
- 統一編號23899081
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觀測物件:
光學鏡頭、鏡片 / 光學薄膜
SiC、GaN晶圓 / UV硬化膠
LC Cell / 光碟基板
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