顯微測量膜厚系統

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MP100-ME顯微測量膜厚系統 此套高性能MP-100-ME顯微測量膜厚系統擁有獨特的錄像展示設計,使用輕便、運用靈活,其軟體能準確的算計出樣品單,雙,三層的厚度。系統的光譜範圍可從紫外光測到紅外光,可運用在液晶顯示、ITO、濾色鏡CIE色度及彩色濾光片厚度,也能量測普通材料,如氧化物,氮化物及矽晶薄膜。送禮 推薦
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https://www.seoweb66.com/web/QA?postID=377025調光安定器之調光器,歐盟ENEC認證

調光安定器之調光器: 型式:牆壁坎入式。 電流控制範圍:1-10V 40mA。

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