超低輝度分光放射計 SR-UL1R

TOPCON 超低輝度分光放射計 SR-UL1R

§ 特點：
※可量測超低輝度0.001 cd/m2
※根據所搭配的FAST MODE，從低輝度範圍開始可高速測定。
※寬廣的測定範圍(0.001~300,000cd/m2)
※輝度精度±2%、色度精度±0.002的高精度表現。
※能由外部的pc控制，自由地換測定角。

§ 用途： FPD相關的光學特性評價、OEL、汽車儀表板、蓄光材、大型TV、MOBLLE、PDP、汽車(儀表板、電子顯示板、各式燈管)、顯示器(大畫面LED、信號機、手機)、零件(液晶Module、冷陰極管、LED、FILTER)、材料(Backlight/蓄光、螢光體、Filter、OEL、LED)、其他(照明燈管、柏青哥遊戲機) 規格及性能詳細規格及性能請來電洽詢溫度控制器